JTAG全稱為“Joint Test Action Group”，是壹種基於硬件的測試和調試接口標準。它能夠對芯片內部的電路進行直接訪問，可以在硬件級別上進行調試、測試、驗證和編程，因此適用於各種類型的電子設備和系統。JTAG廣泛應用於數字電路的測試、板級或系統級仿真模擬、調試和驗證，同時也可以用於協議分析、中間件開發和系統仿真等領域。
JTAG的工作原理是什麽？
JTAG的工作原理是通過特殊的測試芯片（Test Access Port，簡稱TAP）與目標芯片建立聯系，通過鏈式掃描進入目標芯片內部的引腳和內部邏輯電路，可以對芯片進行測試和調試。JTAG接口由四條線組成：TDI（Test Data In）、TDO（Test Data Out）、TCK（Test Clock）和TMS（Test Mode Select）。TDI和TDO分別用於輸入和輸出測試數據，TCK用於控制數據的傳輸速率，TMS用於控制測試狀態機的轉移。這樣就可以通過TAP進入芯片的測試模式，並在其中執行測試任務。
JTAG的應用場景有哪些？
JTAG廣泛應用於數字電路設計中的各個環節，例如芯片的設計、仿真、測試和驗證。同時，它也應用於實際的生產環節中，可實現制造流程中的數據采集和處理，以及對制造設備和系統的測試、調試和維護。此外，JTAG還被廣泛應用於軟件開發、調試和驗證方面，如調試嵌入式系統、解析協議等。因此，JTAG的應用場景非常多樣化，並成為了數字電路及嵌入式系統中常見的硬件調試和測試工具。