HALT（Highly Accelerated Life Test）的全稱是高加速壽命試驗，是壹種試驗方法（思想），采用的環境應力比加速試驗更加嚴酷。主要應用於產品開發階段，它能以較短的時間促使產品的設計和工藝缺陷暴露出來，從而為我們做設計改進，提升產品可靠性提供依據。
HALT試驗其實是硬件工程比較恐懼的試驗：因為往往實驗過程中，會出現不少問題。會有壹種深陷泥潭不能自拔的感覺。
1、由於HALT試驗是產品開發階段，產品相對穩定度還不夠的時間段，出問題的概率還是比較高的。
2、而且是不按照器件規格進行的試驗，如果不出問題，則會壹直做到試驗設備的極限。直到找到產品的薄弱點，並且分析出原因，給出整改意見。直到達到現有設計的極限。
3、問題往往難復現，根因難於挖掘。
高加速壽命試驗(HALT)是由美國Hobbs工程公司總裁GreggKHobbs博士首先提出來的。從90年代開始,HALT獲得推廣應用。HALT的最大特點是時間上的壓縮,即在短短的幾天內模擬壹個產品的整個壽命期間可能遇到的情況。
但其實HALT試驗能暴露出產品的短板，開發階段發現和解決硬件問題的成本代價，要比發貨後發現問題再去解決，成本代價要小很多。
此時設計師頭疼去發現和解決問題，是為了未來產品上市的良好質量保證，需要嚴謹態度去面對問題，感謝問題。不能捂問題。