xps是測什麽表征的

通過分析樣品表面被X射線光子激發後發射出的光電子和俄歇電子的能量、角度和強度，XPS可以確定元素種類、化學狀態、化學鍵類型和含量等信息。此技術還可進行微區分析，檢測深度小於10納米，適用於分析塊體或薄膜樣品。由於XPS是壹種非破壞性的分析方法，對樣品影響較小，因此在材料科學、納米技術、催化劑開發、化學和生物傳感器制備以及表面修飾等領域有著廣泛的應用。