計算公式：CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ，（Mu - LSL)/3σ］
過程能力指數（Process capability index）表示過程能力滿足技術標準（例如規格、公差）的程度，壹般記為CPK。
cpk計算公式應用：
1、當選擇制程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後制程的影響度。
2、計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有壹定代表性。
3、計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。
4、首先可用Excel的“STDEV”函數自動計算所取樣數據的標準差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差=規格上限－規格下限；規格中心值=（規格上限+規格下限）/2。
5、依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出制程準確度：Ca值 (x為所有取樣數據的平均值)。
6、依據公式：Cp =T/6σ ， 計算出制程精密度：Cp值。
7、依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出制程能力指數：Cpk值。